Während der dreitägigen Konferenz diskutierte die Internationale Konferenz über die realen Anwendungen der intelligenten Messtechnik, Advanced Instrumentation and Calibration, Metrology and Industry 4.0 und New Dimensional Metrology Solutions. Metromeet hat einige der führenden Unternehmen der Branche wie Innovalia Metrology, Autodesk, General Electric, Tekniker oder Topsolid begrüßt. Auch verantwortlich von den wichtigsten Institutionen wie der PTB, der Universität Nottigham oder der Universität Antwerpen.
Die Konferenz befasste sich mit einigen der Herausforderungen, vor denen Unternehmen heute stehen, wenn es darum geht, die Vorteile der Einführung intelligenter Messtechnologien zu bewerten. Themen wie vorausschauende Wartung oder Interoperabilität waren für Unternehmen, die den Sprung in eine digital optimierte Produktion schaffen, von entscheidender Bedeutung. Die Veranstaltung bot die Möglichkeit, Technologie, Lösungen und Anwendungen in einem industriellen Umfeld zu verbinden und zu entdecken.
Toni Ventura, CEO von Datapixel, eröffnete die Konferenz mit einem charismatischen Tutorial, in dem er den Weg zur Herstellung von Null-Defekten dank Metrologie verblendete und seine Rede mit einer Reflexion beendete: „Vor Jahren war Die Metrologie nur in Laboratorien präsent, aber heute es ist ein wesentlicher Prozess in der Produktion, es ist ein weiterer Teil des Prozesses in ihm enthalten “
Die 16. Edition von Metromeet wurde auch durch neue Inhalte hervorgehoben, die viel Interesse und Erwartung stritten. Jennifer Herron, eine Mitarbeiterin von NIST, brachte aus Colorado (USA) eine großartige Präsentation über QIF-Fertigungsstandards. Ainhoa Etxabarri hat den zweiten Tag von Metromeet „Metrology in Machining“ ein Papier vorgestellt, in dem neben der Präsentation M3MH, eine einzigartige Messsoftware, die direkte Verbindung zur CNC ermöglicht, präsentierte es eine neue Art der Messung, Herstellung und Optimierung industriellen Prozessen.
Nachdem sie so attraktive Themen wie Hybridmessung, QIF, Softwarelösungen für den 3D-Druck und Industrie 4.0 auf den Tisch gebracht haben, befasste sich der Runde Tisch von Jesus de la Maza, Toni Ventura und Jennifer Herron, der die Konferenz abschloss, mit wichtigen Themen Bedeutung bei der Entwicklung der Industrie wie Fertigungsstandards, Interoperabilität und Datenmanagement in der Fabrik der Zukunft.
Der letzte Tag der Konferenz fand in der Bodegas Valdemar statt, wo die Teilnehmer dank Referenten wie Rafael Garcia, Anwendungsingenieur bei MSI, der am R4-Clio-Projekt teilnahm, Camilo Prieto von AIMEN, innovative Inhalte genossen haben.
Metromeet hat es mit diesen Tagen der Konferenz geschafft, Schlussfolgerungen über die wichtigsten Bedürfnisse des Sektors zu ziehen und mit Fachleuten mit unterschiedlichen Wahrnehmungen und Erfahrungen über die Zukunft der Messtechnik zu diskutieren. Durch Metromeet zeigt Innovalia weiterhin sein Engagement für die technologische Entwicklung und seine klare Position als Verschreibender fortschrittlicher Lösungen im Bereich der Qualitätskontrolle und der Verbesserung von Fertigungsprozessen.
