欠陥ゼロ製造のための計測

前回のMetromeet産業計測国際会議は、Toni Ventura氏(Datapixel社 CEO)による「欠陥ゼロ」という用語についての特別解説で開会されました。

「欠陥ゼロ」の概念は何年も前から存在してはいますが、この概念の大きな間違いの一つは、無駄を出さす、汚染物質の排出なしに、無事故、無損失、無失業で生産することを我々に強要するものだと思い込んでいる点にあります。Toni Ventura氏はPhil Crosby氏から、想像上の製造ではなく、「ゼロ欠陥」のより現実的な定義を引用しています。

「組織はプロセスの各段階で完璧を達成するために努力を惜しまねばならず、品質は管理されるのではなく生み出されるべきものである。」品質とは各組織によって定義づけされ、品質システムは予防のための方法とされるべきであり、生産の品質が期待どおりであるかどうかの判断をサポートする単なるプロセスの最終段階ではありません。業界でもカリスマ性のあるToni Ventura氏が次のように強調しています。「常に産業界では計測は付加価値のない高価なプロセスと見なされてきましたが、実際には生産プロセスの重要な一部であり、企業の付加価値の一部なのです。品質に計測は不可欠と言えます。」

それは、生産の改善とエラー検出のための検査を可能にする継続的な情報ラインの確立でありると同時に、生産を最適化し将来のエラー予測にも使用できる情報です。「動機の問題ということではなく、誰からも誤解を招くことのない標準を確立し、その後、双方向通信演習を実施しながらシステムの周知を図れば良いのです。」

自ら「ゼロ欠陥」だという人はいるのでしょうか。彼は、生産上の問題のうち95%は計測と分析ツールで解決できると断言しています。ゼロ欠陥や生産の最適化について話し合うとき、生産を分析しプロセスのどの部分を改善すべきかを検出できる双方向通信を正確に確立することを可能にする計測、品質管理ツールについての言及は避けて通れないのです。

プロセス最適化の必要性は企業においてますます重要性が高まりつつあり、努力の積み重ねの結果、品質管理はプロセスの一部であると認識されるようになりました。これまでの道のりには、大きな変化があり、品質管理に費やす時間短縮に貢献できる光学センサーと新しいデータ処理システムが組み込まれました。これらの光学センサーとデータを分析し格納する大きな能力を持つ新しいソフトウェアソリューションの装備は、生産プロセスを経済的にするシステムということで、計測の役割を受け入れ安い自然なプロセスを促進しました。ここに至るまで、概念上の変化だけでなく、生産ラインおよび研究室で臨機応変にスキャン測定が可能になる技術的革新にがあったのです。付け加えていうなら、過去には今存在するような大量のデータ保存及び処理が可能なシステムはありませんでした。計測がプロセスの付加価値の一部であるためには、技術開発は不可欠です。

Metromeet 第15周年記念の今年、Toni Ventura氏は、製造とスマート計測を演題に掲げます。さらに、Innovalia Metrology社、Zeiss社、Renishaw社、Creaform社およびFaro社が当会議の後援社となっており、Autodesk社、Innovalia Metrology社、CFAA、Novo Nordisk A / S社、Topsolid社、Tekniker社、PTB、CEA、NISTなど業界の専門家や国際的に著名な企業の代表者との間で、高度な技術コンテンツの共有と独自のネットワーキングの機会が提供されています。

最新の技術開発について直接情報交換を行い、経験を共有し、新しい解決策や課題に共に取り組めるよう将来的な関係構築を目標に、Metromeet事務局は業界のスペシャリストを招待してお待ちしています。