M3 Hybrid: новые метрологические решениями были представлены на выставке IMTS 2018 в Чикаго

На выставке IMTS 2018, которая прошла в сентябре в Чикаго, Innovalia Metrology представила технологию M3 на стенде 135742, East Building 1. В дни выставки была продемонстрирована работа двух программных продуктов: M3 Hybrid и M3MH.

M3 Hybrid, флагманский продукт Innovalia Metrology, сочетает в себе программное и аппаратное обеспечение, позволяющее осуществлять комплексные измерения не только в лабораториях, но и в условиях серийного производства.
Каждая промышленная революция требует разработки новых инструментов и методов метрологии, без которых невозможен переход к новым технологиям производства. Таким образом, термин «Метрология 4.0» возник параллельно с термином «Промышленность 4.0.». Одна из основных идей четвертой промышленной революции состоит в переходе к оцифровке и виртуализации в обрабатывающей промышленности, и именно использование координатно-измерительных машин с технологией M3 Hybrid (комбинация Datapixel Optiscan и ПО M3) позволяет воплотить эту идею в реальность. Интеграция этих технологий с другими цифровыми системами делает возможным переход на цифровые технологии в промышленных процессах.
M3 Hybrid был создан на основе многолетнего опыта и инноваций. Это технологическое решенние дает возможность упростить процесс измерения благодаря программному обеспечению M3, созданному для получения и обработки данных, и идеально адаптированому для работы с оптическим датчиком Optiscan. Использование цифровых копии деталей дает возможность неоднократно проводить измерения без ограничений ни по времени, ни по месту. Переход к цифровой метрологии позволяет приблизиться к концепции бездеффектного производства.
Оптический датчик Optiscan от Innovalia Metrology не имеет аналогов в приложениях для измерения пластиковых деталей, обеспечивает значительное улучшение точности и оптимизацию времени измерения, что, в свою очередь, значительно улучшает длительность цикла производства.
M3, мультисенсорное измерительное метрологическое программное обеспечение, было разработано для использования как в условиях промышленного производства, так и в лабораториях. Благодаря возможности наложения облаков точек (более 100 миллионов координат) M3 позволяет проводить высокоточные измерения с высокой скоростью, сокращая время производства до 30%. Программное обеспечение M3 сочетает в себе все необходимые метрологические возможности для полного контроля качества. Предлагаемые инновационные и функциональные технологии разработаны с учетом требований современного рынка, который в дополнение к широкому спектру технологических возможностей, подразумевает удобное в пользовании, интуитивно понятное и простое в обращении рабочее пространство.
На выставке IMTS Innovalia Metrology также представит M3MH, новое программное обеспечении для измерения на станках.
Наличие расширенных измерительных возможностей самого станка и возможность легко управлять ими — мечта любого механизатора, поскольку это способствует уменьшению количества дефектов. Зная эту потребность, в течение долгих лет многие компании пытались разработать соответствующие технологическое решение, большинство из них были основаны на использовании G-кодов, но это привело не только к уменьшению функциональности, но также делало решение намного более дорогостоящим.
В то же время Innovalia Metrology разработала M3MH — это программное обеспечение для измерения, которое позволяет поверять, настраивать и измерять очень простым способом. Innovalia Metrology, с M3MH, позволяет установить прямую связь с элементами управления станка из самого измерительного программного обеспечения.
M3MH, комплексное программное обеспечение с интуитивно понятным графическим интерфейсом, нарушает текущую парадигму распределения функций и предлагает возможность не только проводить высокоточные измерения, а также позволяет пользователю управлять станком с компьютера.
Таким образом, баскская компания Innovaia Metrology предложила своим клиентам два весьма привлекательные решения, которые позволяют воспользоваться всеми преимуществами интеллектуальной метрологии.